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Pushing the limit of lithography for ...
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Document type :
Communication dans un congrès avec actes
DOI :
10.1109/EDTM50988.2021.9420884
Title :
Pushing the limit of lithography for patterning two-dimensional lattices in III-V semiconductor quantum wells
Author(s) :
Franchina Vergel, Nathali Alexandra [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Post, C. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Vaurette, Francois [Auteur]
Centrale de Micro Nano Fabrication - IEMN [CMNF - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lambert, Yannick [Auteur]
Physique - IEMN [PHYSIQUE - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Yarekha, Dmitri [Auteur]
Centrale de Micro Nano Fabrication - IEMN [CMNF - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Coinon, Christophe [Auteur]
Centrale de Micro Nano Fabrication - IEMN [CMNF - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Fleury, G. [Auteur]
Kulmala, T.S. [Auteur]
Xu, T. [Auteur]
Desplanque, L. [Auteur]
EPItaxie et PHYsique des hétérostructures - IEMN [EPIPHY - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Wallart, X. [Auteur]
EPItaxie et PHYsique des hétérostructures - IEMN [EPIPHY - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Vanmaekelbergh, D. [Auteur]
Delerue, Christophe [Auteur]
Physique - IEMN [PHYSIQUE - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Grandidier, B. [Auteur]
Physique - IEMN [PHYSIQUE - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Conference title :
5th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference, EDTM 2021
City :
Chengdu
Country :
Chine
Start date of the conference :
2021-04-08
Journal title :
Proceedings of the 5th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference, EDTM 2021
Publisher :
IEEE
Publication date :
2021-04
English keyword(s) :
Lithography
III-V semiconductors
two-dimensional lattices
honeycomb
Lattices
Scattering
InGaAs
Nanoperforation
In0.53Ga0.47As
Quantum wells
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]
English abstract : [en]
Building two-dimensional lattices in semiconductor quantum-wells offers the prospect to design distinct energy-momentum dispersions, including conical intersections and nondispersive bands. Here, we compare three lithographic ...
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Building two-dimensional lattices in semiconductor quantum-wells offers the prospect to design distinct energy-momentum dispersions, including conical intersections and nondispersive bands. Here, we compare three lithographic patterning methods, e-beam lithography, block copolymer lithography and thermal scanning probe lithography to produce a honeycomb lattice in an In<sub>0.53</sub>Ga<sub>0.47</sub>As quantum well. We weigh up the pros and cons of each method to reach lattice constants smaller than 20 nm with a minimum of dispersion in the pore size.Show less >
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
ANR Project :
Super-réseau d'antipoints de Dirac pour les électrons dans les semiconducteurs III-V
Collections :
  • Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520
Source :
Harvested from HAL
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