1-20 GHz k Omega-range BiCMOS 55 nm Reflectometer

Type de document :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Titre :
1-20 GHz k Omega-range BiCMOS 55 nm Reflectometer
Auteur(s) :
Ferreira, Pietro M. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Donche, Cora [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Haddadi, Kamel [Auteur] refId
Circuits Systèmes Applications des Micro-ondes - IEMN [CSAM - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lasri, Tuami [Auteur]
Microtechnology and Instrumentation for Thermal and Electromagnetic Characterization - IEMN [MITEC - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Dambrine, Gilles [Auteur] refId
Advanced NanOmeter DEvices - IEMN [ANODE - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Gaquière, Christophe [Auteur]
Puissance - IEMN [PUISSANCE - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Quemerais, Thomas [Auteur]
STMicroelectronics [Crolles] [ST-CROLLES]
Gloria, Daniel [Auteur]
STMicroelectronics
Titre de la manifestation scientifique :
12th IEEE International New Circuits and Systems Conference (IEEE NEWCAS)
Ville :
Trois-Rivieres
Pays :
Canada
Date de début de la manifestation scientifique :
2014-06-22
Date de publication :
2014
Discipline(s) HAL :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Résumé en anglais : [en]
Scanning microwave microscope (SMM) combines the high spatial resolution with the high-sensitivity electric measurement capabilities of a vector network analyzer (VNA). SMM has been pointed out as very well suited for ...
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Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Internationale
Vulgarisation :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL