Near-field scanning microwave microscope ...

Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
DOI :
10.1109/EuMC.2015.7345723
Title :
Near-field scanning microwave microscope for subsurface non-destructive characterization
Author(s) :
Gu, Sijia [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Haddadi, Kamel [Auteur]
Circuits Systèmes Applications des Micro-ondes - IEMN [CSAM - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
El Fellahi, Abdelhatif [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
École normale supérieure - Cachan [ENS Cachan]
Lasri, Tuami [Auteur]
Microtechnology and Instrumentation for Thermal and Electromagnetic Characterization - IEMN [MITEC - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Conference title :
45th European Microwave Conference (EuMC)
City :
Paris
Country :
France
Start date of the conference :
2015-09-06
Publisher :
IEEE
Publication date :
2015
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]
French abstract :
We report a nondestructive testing system based on near-field scanning microwave microscopy. The instrumentation is built up with a vector network analyzer, a fully automated tuning matching network and an evanescent ...
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Language :
Français
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL