Title :

Dual monitoring of surface reactions in real time by combined surface-plasmon resonance and field-effect transistor interrogation

Author(s) :

Aspermair, Patrik [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Ramach, Ulrich [Auteur]
Austrian Institute of Technology [Vienna] [AIT]
Reiner-Rozman, Ciril [Auteur]
Fossati, Stefan [Auteur]
Austrian Institute of Technology [Vienna] [AIT]
Lechner, Bernadette [Auteur]
Moya, Sergio E. [Auteur]
Azzaroni, Omar [Auteur]
Dostalek, Jakub [Auteur]
Austrian Institute of Technology [Vienna] [AIT]
Szunerits, Sabine [Auteur]
NanoBioInterfaces - IEMN [NBI - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Knoll, Wolfgang [Auteur]
Austrian Institute of Technology [Vienna] [AIT]
Bintinger, Johannes [Auteur]

Journal title :

JOURNAL OF THE AMERICAN CHEMICAL SOCIETY

Pages :

11709-11716

Publisher :

American Chemical Society

Publication date :

2020-07-08

ISSN :

0002-7863

HAL domain(s) :

Sciences de l'ingénieur [physics]

Language :

Anglais

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL