Titre :

Augmenting sensitivity of surface plasmon resonance (SPR) sensors with the aid of anti-reflective coatings (ARCs)

Auteur(s) :

Cm, Das [Auteur]
Ql, Ouyang [Auteur]
Lx, Kang [Auteur]
Y, Guo [Auteur]
Xq, Dinh [Auteur]
Coquet, Philippe [Auteur]
CNRS International - NTU - Thales Research Alliance [CINTRA]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Kt, Yong [Auteur]

Titre de la revue :

Photonics Nanostruct.

Pagination :

100760

Date de publication :

2020

Mot(s)-clé(s) en anglais :

Surface plasmon resonance
Biomolecular detection
Sensitivity enhancement
Anti-reflective coatings
Simulation and modeling

Discipline(s) HAL :

Sciences de l'ingénieur [physics]

Résumé en anglais : [en]

Surface plasmon resonance (SPR)-based biosensors are an integral and indispensable aspect of present-day pathology, owing to its efficient real-time and label-free detection capabilities. Enhancing the sensitivity of these ...
Lire la suite >Surface plasmon resonance (SPR)-based biosensors are an integral and indispensable aspect of present-day pathology, owing to its efficient real-time and label-free detection capabilities. Enhancing the sensitivity of these sensors is of paramount importance as it indirectly affects the detection limits of biomolecules. In this simulation work, we make use of antireflective coatings (ARCs) (double and multi-layered), made up of nanomaterials with alternating high and low refractive indices (R.I.) (TiO2/SiO2, TiO2/MgF2, Nb2O5/SiO2 and Nb2O5/MgF2); to enhance the sensitivity of Si-Transition Metal Dichalcogenides (TMDCs)-based SPR sensors. To summarize the entire outcome, our simulation predicts the sensitivity of the TiO2-SiO2-Au-Si-TMDC configuration to be 284 degRIU-1 at 633 nm of incident light wavelength.Lire moins >

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Internationale

Vulgarisation :

Non

Projet ANR :

Méta-surfaces à base de nanomatériaux 2D pour une détection plasmonique ultrasensible

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL