Title :

Caractérisation d'absorbant métamatériau PENiFe en bandes S et L

Author(s) :

Fernez, Nicolas [Auteur]
Dispostifs Opto et Micro Electronique - IEMN [DOME - IEMN]
Arbaoui, Younès [Auteur]
Lab-STICC_UBO_MOM_MF
Niemiec, Ronan [Auteur]
Agaciak, Philippe [Auteur]
Institut de Recherche Dupuy de Lôme [IRDL]
Burgnies, Ludovic [Auteur]
Université du Littoral Côte d'Opale [ULCO]
Dispostifs Opto et Micro Electronique - IEMN [DOME - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Azar, Maalouf [Auteur]
Lab-STICC_UBO_MOM_MF
Lheurette, Eric [Auteur]
Dispostifs Opto et Micro Electronique - IEMN [DOME - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Chevalier, Alexis [Auteur]
Lab-STICC_UBO_MOM_MF
Sadaune, Véronique [Auteur]
INSA Institut National des Sciences Appliquées Hauts-de-France [INSA Hauts-De-France]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Dispostifs Opto et Micro Electronique - IEMN [DOME - IEMN]
Queffelec, Patrick [Auteur]
Lab-STICC_UBO_MOM_MF
Laur, Vincent [Auteur]
Lab-STICC_UBO_MOM_MF
Lippens, Didier [Auteur]
Dispostifs Opto et Micro Electronique - IEMN [DOME - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Conference title :

JCMM 2018

City :

Paris

Country :

France

Start date of the conference :

2018-03-19

HAL domain(s) :

Sciences de l'ingénieur [physics]
Sciences de l'ingénieur [physics]/Electromagnétisme
Sciences de l'ingénieur [physics]/Matériaux
Sciences de l'ingénieur [physics]/Electronique

Language :

Français

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Internationale

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL