• English
    • français
  • Help
  •  | 
  • Contact
  •  | 
  • About
  •  | 
  • Login
  • HAL portal
  •  | 
  • Pages Pro
  • EN
  •  / 
  • FR
View Item 
  •   LillOA Home
  • Liste des unités
  • Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520
  • View Item
  •   LillOA Home
  • Liste des unités
  • Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520
  • View Item
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Comparative Study on the Localized Surface ...
  • BibTeX
  • CSV
  • Excel
  • RIS

Document type :
Article dans une revue scientifique
DOI :
10.1021/nn505416r
Title :
Comparative Study on the Localized Surface Plasmon Resonance of Boron- and Phosphorus-Doped Silicon Nanocrystals
Author(s) :
Zhou, Shu [Auteur]
Pi, Xiaodong [Auteur]
Ni, Zhenyi [Auteur]
Ding, Yi [Auteur]
Université de Tsukuba = University of Tsukuba
Jiang, Yingying [Auteur]
Jin, Chuanhong [Auteur]
Delerue, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Yang, Deren [Auteur]
Nozaki, Tomohiro [Auteur]
Journal title :
ACS Nano
Pages :
378-386
Publisher :
American Chemical Society
Publication date :
2015-01-02
ISSN :
1936-0851
HAL domain(s) :
Physique [physics]
Physique [physics]/Matière Condensée [cond-mat]
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
Collections :
  • Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520
Source :
Harvested from HAL
Université de Lille

Mentions légales
Université de Lille © 2017