Probing technique for localized thermal ...

Document type :
Article dans une revue scientifique
DOI :
10.1088/0957-0233/26/8/087003
Title :
Probing technique for localized thermal conductivity measurement
Author(s) :
Ziouche, K. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Bougrioua, Z. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lejeune, P. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lasri, T. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Leclercq, Didier [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Journal title :
Measurement Science and Technology
Pages :
087003
Publisher :
IOP Publishing
Publication date :
2015-08-01
ISSN :
0957-0233
HAL domain(s) :
Physique [physics]
English abstract : [en]
A low-cost and non-destructive measurement technique based on the combination of a temperature sensor and a heater integrated in a very sharp tip is proposed for the determination of thermal conductivity of planar materials. ...
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Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL