Charge Blinking Statistics of Semiconductor ...
Document type :
Article dans une revue scientifique
Title :
Charge Blinking Statistics of Semiconductor Nanocrystals Revealed by Carbon Nanotube Single Charge Sensors
Author(s) :
Zbydniewska, Ewa [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Duzynska, Anna [Auteur]
Popoff, Michka [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Hourlier, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lenfant, Stéphane [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Judek, Jaroslaw [Auteur]
Zdrojek, Mariusz [Auteur]
Melin, Thierry [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Duzynska, Anna [Auteur]
Popoff, Michka [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Hourlier, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lenfant, Stéphane [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Judek, Jaroslaw [Auteur]
Zdrojek, Mariusz [Auteur]
Melin, Thierry [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Journal title :
Nano Letters
Pages :
6349-6356
Publisher :
American Chemical Society
Publication date :
2015-09-02
ISSN :
1530-6984
HAL domain(s) :
Physique [physics]/Physique Quantique [quant-ph]
Sciences de l'ingénieur [physics]/Micro et nanotechnologies/Microélectronique
Sciences de l'ingénieur [physics]/Micro et nanotechnologies/Microélectronique
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
Source :