Modeling and parameter retrieving in time ...
Type de document :
Communication dans un congrès avec actes
DOI :
Titre :
Modeling and parameter retrieving in time domain spectroscopy of material and metamaterial
Auteur(s) :
Peretti, Romain [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Micica, Martin [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Mitryukovskiy, Sergey [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Froberger, Kevin [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Eliet, Sophie [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Vanwolleghem, Mathias [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Lampin, Jean-Francois [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Micica, Martin [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Mitryukovskiy, Sergey [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Froberger, Kevin [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Eliet, Sophie [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Vanwolleghem, Mathias [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Lampin, Jean-Francois [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Titre de la manifestation scientifique :
Nonlinear Optics and its Applications
Ville :
Strasbourg
Pays :
France
Date de début de la manifestation scientifique :
2018-04-22
Éditeur :
SPIE
Mot(s)-clé(s) en anglais :
Time-domain spectroscopy
TeraHertz
refractive index
optimization
modeling
TeraHertz
refractive index
optimization
modeling
Discipline(s) HAL :
Physique [physics]/Physique [physics]/Biophysique [physics.bio-ph]
Physique [physics]/Physique [physics]/Optique [physics.optics]
Sciences de l'ingénieur [physics]/Optique / photonique
Physique [physics]/Physique [physics]/Optique [physics.optics]
Sciences de l'ingénieur [physics]/Optique / photonique
Résumé en anglais : [en]
AbstractIn this proceeding, we present a software Fit@TDS that enables to retrieve the refractive index of a sample from a timedomain spectroscopy experiment. The software include commonly used methods where the refractive ...
Lire la suite >AbstractIn this proceeding, we present a software Fit@TDS that enables to retrieve the refractive index of a sample from a timedomain spectroscopy experiment. The software include commonly used methods where the refractive index is extracted from frequency domain data. This method has limitations when the signal is too noisy or when the absorption peak saturates the absorption. Thus, the software includes as well a new method where the refractive index are directly fitted using a model (the Drude-Lorentz for example) in the time domain. This method uses an optimization algorithm that retrieves the parameters of the model corresponding to the studied material. In this proceeding, we explain the methods and test them on fictitious samples to probe the feasibility and reliability of the proposed model.Lire moins >
Lire la suite >AbstractIn this proceeding, we present a software Fit@TDS that enables to retrieve the refractive index of a sample from a timedomain spectroscopy experiment. The software include commonly used methods where the refractive index is extracted from frequency domain data. This method has limitations when the signal is too noisy or when the absorption peak saturates the absorption. Thus, the software includes as well a new method where the refractive index are directly fitted using a model (the Drude-Lorentz for example) in the time domain. This method uses an optimization algorithm that retrieves the parameters of the model corresponding to the studied material. In this proceeding, we explain the methods and test them on fictitious samples to probe the feasibility and reliability of the proposed model.Lire moins >
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Internationale
Vulgarisation :
Non
Projet ANR :
Source :