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Multiport Vector Network Analyzer Configured ...
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Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
DOI :
10.1109/MWSYM.2019.8700783
Title :
Multiport Vector Network Analyzer Configured in RF Interferometric Mode for Reference Impedance Renormalization
Author(s) :
Haddadi, Kamel [Auteur] refId
Circuits Systèmes Applications des Micro-ondes - IEMN [CSAM - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Okada, Etienne [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Daffe, K. [Auteur]
Advanced NanOmeter DEvices - IEMN [ANODE - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Mubarak, F. [Auteur]
Théron, Didier [Auteur] refId
Nano and Microsystems - IEMN [NAM6 - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Dambrine, Gilles [Auteur] refId
Advanced NanOmeter DEvices - IEMN [ANODE - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Conference title :
2019 IEEE/MTT-S International Microwave Symposium - IMS 2019
City :
Boston
Country :
France
Start date of the conference :
2019-06-02
Publisher :
IEEE
English keyword(s) :
multiport vector network analyzer
microwave interferometry
extreme impedance
vector calibration
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]/Micro et nanotechnologies/Microélectronique
English abstract : [en]
A novel active microwave interferometric technique is implemented on a multiport vector network analyzer for renormalizing the reference impedance 50 Ohms into any desired complex impedance. The resulting measured reflection ...
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A novel active microwave interferometric technique is implemented on a multiport vector network analyzer for renormalizing the reference impedance 50 Ohms into any desired complex impedance. The resulting measured reflection coefficient around the new reference impedance is around zero, resulting in high measurement sensitivity. The method proposed avoids any external component commonly found in interferometric setups. In addition, a zeroing process including vector calibration is developed for broad frequency range and requires only a software procedure to be implemented in the system framework.Show less >
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
European Project :
Microwave Microscopy for Advanced and Efficient Materials Analysis and Production
Collections :
  • Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520
Source :
Harvested from HAL
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