Title :

Surface Characterizations and Selective Etching of Sr‐Rich Segregation on Top of SrVO 3 Thin‐Films Grown by Pulsed Laser Deposition

Author(s) :

Bourlier, Yoan [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Fregnaux, Mathieu [Auteur]
Institut Lavoisier de Versailles [ILV]
Bérini, Bruno [Auteur]
Groupe d'Etude de la Matière Condensée [GEMAC]
Fouchet, Arnaud [Auteur]
Laboratoire de cristallographie et sciences des matériaux [CRISMAT]
Dumont, Yves [Auteur]
Groupe d'Etude de la Matière Condensée [GEMAC]
Aureau, Damien [Auteur]
Institut Lavoisier de Versailles [ILV]

Publisher :

Wiley

Publication date :

2019-03-18

HAL domain(s) :

Chimie/Matériaux
Physique [physics]/Matière Condensée [cond-mat]/Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Internationale

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL

Submission date :

2021-07-27T10:48:16Z