Surface Characterizations and Selective ...
Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...)
DOI :
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Title :
Surface Characterizations and Selective Etching of Sr‐Rich Segregation on Top of SrVO 3 Thin‐Films Grown by Pulsed Laser Deposition
Author(s) :
Bourlier, Yoan [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Fregnaux, Mathieu [Auteur]
Institut Lavoisier de Versailles [ILV]
Bérini, Bruno [Auteur]
Groupe d'Etude de la Matière Condensée [GEMAC]
Fouchet, Arnaud [Auteur]
Laboratoire de cristallographie et sciences des matériaux [CRISMAT]
Dumont, Yves [Auteur]
Groupe d'Etude de la Matière Condensée [GEMAC]
Aureau, Damien [Auteur]
Institut Lavoisier de Versailles [ILV]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Fregnaux, Mathieu [Auteur]
Institut Lavoisier de Versailles [ILV]
Bérini, Bruno [Auteur]
Groupe d'Etude de la Matière Condensée [GEMAC]
Fouchet, Arnaud [Auteur]
Laboratoire de cristallographie et sciences des matériaux [CRISMAT]
Dumont, Yves [Auteur]
Groupe d'Etude de la Matière Condensée [GEMAC]
Aureau, Damien [Auteur]
Institut Lavoisier de Versailles [ILV]
Publisher :
Wiley
Publication date :
2019-03-18
HAL domain(s) :
Chimie/Matériaux
Physique [physics]/Matière Condensée [cond-mat]/Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]
Physique [physics]/Matière Condensée [cond-mat]/Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
Source :
Submission date :
2021-07-27T10:48:16Z