Impression 3D: dispersion de la permittivité ...
Type de document :
Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Impression 3D: dispersion de la permittivité de l’Acrylonitrile Butadiène Styrène (ABS) aux fréquences térahertz
Auteur(s) :
Garet, Frédéric [Auteur]
Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation [IMEP-LAHC ]
Sadaune, Veronique [Auteur]
Dispostifs Opto et Micro Electronique - IEMN [DOME - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - Département Opto-Acousto-Électronique - UMR 8520 [IEMN-DOAE]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Coutaz, Jean-Louis [Auteur]
Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation [IMEP-LAHC ]
Lippens, D. [Auteur]
Dispostifs Opto et Micro Electronique - IEMN [DOME - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation [IMEP-LAHC ]
Sadaune, Veronique [Auteur]

Dispostifs Opto et Micro Electronique - IEMN [DOME - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - Département Opto-Acousto-Électronique - UMR 8520 [IEMN-DOAE]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Coutaz, Jean-Louis [Auteur]
Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation [IMEP-LAHC ]
Lippens, D. [Auteur]
Dispostifs Opto et Micro Electronique - IEMN [DOME - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la manifestation scientifique :
14ème Journées de Caractérisation Microondes et Matériaux
Ville :
Calais
Pays :
France
Date de début de la manifestation scientifique :
2016-03-23
Discipline(s) HAL :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Langue :
Français
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Internationale
Vulgarisation :
Non
Source :