Titre :

Comparative studies of Pt and Ir schottky contacts on undoped Al0.36Ga0.64N

Auteur(s) :

Guhel, Y. [Auteur]
Laboratoire Universitaire des Sciences Appliquées de Cherbourg [LUSAC]
Boudart, B. [Auteur]
Laboratoire Universitaire des Sciences Appliquées de Cherbourg [LUSAC]
Delos, E. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Germain, Marie [Auteur]
Bougrioua, Zahia [Auteur]

Titre de la revue :

Microelectronics Reliability

Pagination :

786 - 793

Éditeur :

Elsevier

Date de publication :

2006-05

ISSN :

0026-2714

Discipline(s) HAL :

Sciences de l'ingénieur [physics]
Sciences de l'ingénieur [physics]/Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Langue :

Anglais

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL