Title :

"Silicon High Frequency Test Structures Improvement for Millimeter Wave Varactors Characterization Optimization and Modeling"

Author(s) :

Sonnerat, F. [Auteur]
STMicroelectronics [Crolles] [ST-CROLLES]
Debroucke, R. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
STMicroelectronics [Crolles] [ST-CROLLES]
Morandini, Y. [Auteur]
STMicroelectronics [Crolles] [ST-CROLLES]
Gloria, D. [Auteur]
STMicroelectronics [Crolles] [ST-CROLLES]
Arnould, Jean-Daniel [Auteur]
Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation [IMEP-LAHC]

Conference title :

IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS)

City :

Amsterdam

Country :

Pays-Bas

Start date of the conference :

2011-04

Book title :

IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS)

Publication date :

2011

HAL domain(s) :

Sciences de l'ingénieur [physics]/Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Internationale

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL