Caractérisation non linéaire de films ...
Type de document :
Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Caractérisation non linéaire de films minces de (Pb,Sr)TiO3
Auteur(s) :
Ponchel, Freddy [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Burgnies, Ludovic [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
DUCATTEAU, Damien [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lheurette, Eric [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Remiens, Denis [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lippens, Didier [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Burgnies, Ludovic [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
DUCATTEAU, Damien [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lheurette, Eric [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Remiens, Denis [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lippens, Didier [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la manifestation scientifique :
13èmes Journées de Caractérisation Microondes et Matériaux, JCMM2014
Ville :
Nantes
Pays :
France
Date de début de la manifestation scientifique :
2014
Titre de l’ouvrage :
Actes des 13èmes Journées de Caractérisation Microondes et Matériaux, JCMM2014
Date de publication :
2014
Discipline(s) HAL :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Résumé :
Ce travail traite de la caractérisation diélectrique haute fréquence, en petit et en grand signal, de films minces ferroélectriques déposées sur silicium haute résistivité. Quel que soit le régime de fonctionnement la ...
Lire la suite >Ce travail traite de la caractérisation diélectrique haute fréquence, en petit et en grand signal, de films minces ferroélectriques déposées sur silicium haute résistivité. Quel que soit le régime de fonctionnement la structure utilisée est un guide d'onde coplanaire sans discontinuité avec une largeur de fente, de l'ordre du micromètre. De ce fait, le dispositif ne présente pas de fréquence de coupure de Bragg. La caractérisation en régime petit signal vise à la détermination de la fonction diélectrique et plus particulièrement les propriétés de symétrie. Celle en grand signal a pour objectif de mettre en évidence les performances des matériaux ferroélectriques (une couche de 160nm de Pb0.4Sr0.6TiO3) pour la génération d'harmoniques. Ces composants, dont la non linéarité est complétement distribuée, présentent, des rendements de conversion de 4% pour une fréquence fondamentale F0=1GHz et de 3% à F0=10GHz, pour une puissance incidente Pac=1100mWLire moins >
Lire la suite >Ce travail traite de la caractérisation diélectrique haute fréquence, en petit et en grand signal, de films minces ferroélectriques déposées sur silicium haute résistivité. Quel que soit le régime de fonctionnement la structure utilisée est un guide d'onde coplanaire sans discontinuité avec une largeur de fente, de l'ordre du micromètre. De ce fait, le dispositif ne présente pas de fréquence de coupure de Bragg. La caractérisation en régime petit signal vise à la détermination de la fonction diélectrique et plus particulièrement les propriétés de symétrie. Celle en grand signal a pour objectif de mettre en évidence les performances des matériaux ferroélectriques (une couche de 160nm de Pb0.4Sr0.6TiO3) pour la génération d'harmoniques. Ces composants, dont la non linéarité est complétement distribuée, présentent, des rendements de conversion de 4% pour une fréquence fondamentale F0=1GHz et de 3% à F0=10GHz, pour une puissance incidente Pac=1100mWLire moins >
Langue :
Français
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Source :