Mesures de travail de sortie par microscopie ...
Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Title :
Mesures de travail de sortie par microscopie à sonde de Kelvin et spectroscopie électronique sur des hétérostructures de Si1-xGex
Author(s) :
Pouch, Sylvain [Auteur]
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information [CEA-LETI]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information [CEA-LETI]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Conference title :
16èmes Journées Nationales du Réseau Doctoral en Micro-Nanoélectronique, JNRDM 2013
City :
Grenoble
Country :
France
Start date of the conference :
2013
Language :
Français
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Source :