Mesures de travail de sortie par microscopie ...
Type de document :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Mesures de travail de sortie par microscopie à sonde de Kelvin et spectroscopie électronique sur des hétérostructures de Si1-xGex
Auteur(s) :
Pouch, Sylvain [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information [CEA-LETI]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information [CEA-LETI]
Titre de la manifestation scientifique :
16èmes Journées Nationales du Réseau Doctoral en Micro-Nanoélectronique, JNRDM 2013
Ville :
Grenoble
Pays :
France
Date de début de la manifestation scientifique :
2013
Langue :
Français
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Source :