Etude de l'influence de la pointe sur les ...

Document type :
Communication dans un congrès avec actes
Title :
Etude de l'influence de la pointe sur les mesures KFM sur échantillon d'AlGaAs/GaAs
Author(s) :
Pouch, Sylvain [Auteur]
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information [CEA-LETI]
Chevalier, Nicolas [Auteur]
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information [CEA-LETI]
Mariolle, Denis [Auteur]
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information [CEA-LETI]
Triozon, François [Auteur]
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information [CEA-LETI]
Melin, Thierry [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Borowik, Lukasz [Auteur]
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information [CEA-LETI]
Conference title :
17ème Forum des Microscopies à Sonde Locale
City :
Montauban
Country :
France
Start date of the conference :
2014
Book title :
Actes du 17ème Forum des Microscopies à Sonde Locale
Publication date :
2014
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]
French abstract :
La microscopie à sonde de Kelvin (KFM) est capable de fournir une mesure résolue spatialement et en énergie de la structure de bande en surface d'un matériau. Elle dépend néanmoins fortement des propriétés physiques de la ...
Show more >
Language :
Français
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL