Titre :

Laser ultrasonics and mode conversion for flaw depth gauging

Auteur(s) :

Faëse, Frédéric [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Jenot, Frederic [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Ouaftouch, Mohammadi [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Duquennoy, Marc [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Ourak, Mohamed [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Titre de la manifestation scientifique :

13th International Symposium on Nondestructive Characterization of Materials, NDCM-XIII

Ville :

Le Mans

Pays :

France

Date de début de la manifestation scientifique :

2013

Titre de l’ouvrage :

Proceedings of 13th International Symposium on Nondestructive Characterization of Materials, NDCM-XIII

Date de publication :

2013

Mot(s)-clé(s) en anglais :

non destructive testing (NDT)
laser ultrasonics
Rayleigh waves
mode conversion
flaw depth gauging

Résumé en anglais : [en]

Compared to earliest non destructive testing and evaluation methods based on transducers, laser ultrasonics shows specific advantages. It is a non-contact method combining a high spatial resolution and a large bandwidth, ...
Lire la suite >Compared to earliest non destructive testing and evaluation methods based on transducers, laser ultrasonics shows specific advantages. It is a non-contact method combining a high spatial resolution and a large bandwidth, allowing high temperature and/or geometrically complex materials testing. In this work, ultrasonic waves are generated in an aluminium sample by a pulsed Nd:YAG laser in the thermoelastic mode. An interferometric optical probe is used to detect surface waves after their interaction with a flaw. This study will particularly focus on two Rayleigh waves. The first one is directly transmitted by the flaw whereas the second one is mode-converted from the head wave. Considering the relative amplitude of these two waves, experimental results lead to an original flaw depth gauging method.Lire moins >

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL