Scanning tunneling microscopy and ...
Document type :
Communication dans un congrès avec actes
Title :
Scanning tunneling microscopy and angle-resolved photoelectron spectroscopy studies of graphene on SiC (C-face) substrate grown by Si flux-assisted molecular beam epitaxy
Author(s) :
Razado-Colambo, I. [Auteur]
Synchrotron SOLEIL [SSOLEIL]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Nys, J.P. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Wallart, Xavier [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Godey, Sylvie [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Avila, J. [Auteur]
Synchrotron SOLEIL [SSOLEIL]
Asensio, M.C. [Auteur]
Synchrotron SOLEIL [SSOLEIL]
Vignaud, Dominique [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Synchrotron SOLEIL [SSOLEIL]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Nys, J.P. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Wallart, Xavier [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Godey, Sylvie [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Avila, J. [Auteur]
Synchrotron SOLEIL [SSOLEIL]
Asensio, M.C. [Auteur]
Synchrotron SOLEIL [SSOLEIL]
Vignaud, Dominique [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Conference title :
4th Graphene Conference, Graphene 2014
City :
Toulouse
Country :
France
Start date of the conference :
2014
Book title :
Proceedings of 4th Graphene Conference, Graphene 2014
Publication date :
2014
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Source :