Title :

Scanning tunneling microscopy and angle-resolved photoelectron spectroscopy studies of graphene on SiC (C-face) substrate grown by Si flux-assisted molecular beam epitaxy

Author(s) :

Razado-Colambo, I. [Auteur]
Synchrotron SOLEIL [SSOLEIL]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Nys, J.P. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Wallart, X. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Godey, S. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Avila, J. [Auteur]
Synchrotron SOLEIL [SSOLEIL]
Asensio, M.C. [Auteur]
Synchrotron SOLEIL [SSOLEIL]
Vignaud, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Conference title :

4th Graphene Conference, Graphene 2014

City :

Toulouse

Country :

France

Start date of the conference :

2014

Book title :

Proceedings of 4th Graphene Conference, Graphene 2014

Publication date :

2014

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL