Interferometric technique for scanning ...

Document type :
Communication dans un congrès avec actes
DOI :
10.1109/I2MTC.2013.6555703
Title :
Interferometric technique for scanning near-field microwave microscopy applications
Author(s) :
Bakli, H. [Auteur]
Haddadi, Kamel [Auteur] refId
Lasri, T. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Conference title :
IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference, I2MTC 2013
City :
Minneapolis, MN
Country :
Etats-Unis d'Amérique
Start date of the conference :
2013
Book title :
Proceedings of 2013 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference, I2MTC 2013
Publication date :
2013
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL