• English
    • français
  • Help
  •  | 
  • Contact
  •  | 
  • About
  •  | 
  • Login
  • HAL portal
  •  | 
  • Pages Pro
  • EN
  •  / 
  • FR
View Item 
  •   LillOA Home
  • Liste des unités
  • Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520
  • View Item
  •   LillOA Home
  • Liste des unités
  • Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520
  • View Item
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Characteristics of the surface microstructures ...
  • BibTeX
  • CSV
  • Excel
  • RIS

Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...)
DOI :
10.1364/OME.3.001111
Permalink :
http://hdl.handle.net/20.500.12210/46996
Title :
Characteristics of the surface microstructures in thick InGaN layers on GaN
Author(s) :
El Gmili, Y. [Auteur]
Orsal, G. [Auteur]
Pantzas, K. [Auteur]
Ahaitouf, A. [Auteur]
Moudakir, T. [Auteur]
Gautier, S. [Auteur]
Patriarche, G. [Auteur]
Troadec, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Salvestrini, J.P. [Auteur]
Ougazzaden, A. [Auteur]
Publisher :
OSA pub
Publication date :
2013
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Collections :
  • Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520
Source :
Harvested from HAL
Submission date :
2021-07-27T14:28:26Z
Files
Thumbnail
  • https://doi.org/10.1364/ome.3.001111
  • Open access
  • Access the document
Thumbnail
  • https://doi.org/10.1364/ome.3.001111
  • Open access
  • Access the document
Université de Lille

Mentions légales
Université de Lille © 2017