Title :

[Invited] Assessment of transistors based on GaN on silicon substrate in view of integration with silicon technology

Author(s) :

Soltani, A. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Cordier, Y. [Auteur]
Gerbedoen, J.C. [Auteur]
Joblot, S. [Auteur]
Okada, Etienne [Auteur]
Chmielowska, M. [Auteur]
Ramdani, M.R. [Auteur]
De Jaeger, Jean-Claude [Auteur]

Journal title :

Semiconductor Science and Technology

Pages :

094003-1-6

Publisher :

IOP Publishing

Publication date :

2013

ISSN :

0268-1242

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

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