Broadband dielectric characterization of ...
Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
DOI :
Titre :
Broadband dielectric characterization of sapphire/TiOx/Ba0.3Sr0.7TiO3 (111)-oriented thin films for the realization of a tunable interdigitated capacitor
Auteur(s) :
Ghalem, A. [Auteur]
Ponchel, Freddy [Auteur]
Remiens, Denis [Auteur]
Legier, Jean-François [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lasri, Tuami [Auteur]
Ponchel, Freddy [Auteur]
Remiens, Denis [Auteur]
Legier, Jean-François [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lasri, Tuami [Auteur]
Titre de la revue :
IEEE Transactions on Ultrasonics, Ferroelectrics and Frequency Control
Pagination :
880-887
Éditeur :
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Date de publication :
2013
ISSN :
0885-3010
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Source :