Title :

Broadband dielectric characterization of sapphire/TiOx/Ba0.3Sr0.7TiO3 (111)-oriented thin films for the realization of a tunable interdigitated capacitor

Author(s) :

Ghalem, A. [Auteur]
Ponchel, Freddy [Auteur]
Remiens, Denis [Auteur]
Legier, Jean-François [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lasri, Tuami [Auteur]

Journal title :

IEEE Transactions on Ultrasonics, Ferroelectrics and Frequency Control

Pages :

880-887

Publisher :

Institute of Electrical and Electronics Engineers

Publication date :

2013

ISSN :

0885-3010

Language :

Anglais

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL