Title :

Utilisation de l'AFM pour l'étude d'échantillons - Acquisition des données et traitement d'image - Stage de master 1

Author(s) :

Bendriaa, F. [Auteur]
Hoel, Virginie [Auteur]
Happy, Henri [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Conference title :

10èmes Journées Pédagogiques du CNFM

City :

Saint-Malo

Country :

France

Start date of the conference :

2008

Book title :

Actes des 10èmes Journées Pédagogiques du CNFM

Publication date :

2008

Language :

Français

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL