Interferometric scanning microwave microscope ...
Type de document :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Interferometric scanning microwave microscope for nanotechnology application
Auteur(s) :
Clement, N. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Dargent, Thomas [Auteur]
Tanbakuchi, H. [Auteur]
Nishiguchi, K. [Auteur]
Sivakumarasamy, R. [Auteur]
Wang, F. [Auteur]
Fujiwara, A. [Auteur]
Ducatteau, D. [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur]
Vuillaume, D. [Auteur]
Legrand, Bernard [Auteur]
Théron, Didier [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Dargent, Thomas [Auteur]

Tanbakuchi, H. [Auteur]
Nishiguchi, K. [Auteur]
Sivakumarasamy, R. [Auteur]
Wang, F. [Auteur]
Fujiwara, A. [Auteur]
Ducatteau, D. [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur]

Vuillaume, D. [Auteur]
Legrand, Bernard [Auteur]
Théron, Didier [Auteur]

Titre de la manifestation scientifique :
American Physical Society March Meeting, APS March Meeting 2013
Ville :
Baltimore, MD
Pays :
Etats-Unis d'Amérique
Date de début de la manifestation scientifique :
2013
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Source :