Resolving dopants in semiconductors by ...
Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Title :
Resolving dopants in semiconductors by scanning tunneling microscopy
Author(s) :
Berthe, Maxime [Auteur]
Grandidier, Bruno [Auteur]
Mahieu, G. [Auteur]
Xu, T. [Auteur]
Deresmes, D. [Auteur]
Nys, J.P. [Auteur]
Stievenard, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Ebert, P. [Auteur]

Grandidier, Bruno [Auteur]

Mahieu, G. [Auteur]
Xu, T. [Auteur]
Deresmes, D. [Auteur]
Nys, J.P. [Auteur]
Stievenard, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Ebert, P. [Auteur]
Conference title :
Journées Thématiques du GdR Nanofils Semiconducteurs - Dopage des nanofils semiconducteurs
City :
Rouen
Country :
France
Start date of the conference :
2010
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Source :