Resolving dopants in semiconductors by ...
Type de document :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Resolving dopants in semiconductors by scanning tunneling microscopy
Auteur(s) :
Berthe, Maxime [Auteur]
Grandidier, B. [Auteur]
Mahieu, G. [Auteur]
Xu, T. [Auteur]
Deresmes, D. [Auteur]
Nys, J.P. [Auteur]
Stievenard, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Ebert, P. [Auteur]

Grandidier, B. [Auteur]
Mahieu, G. [Auteur]
Xu, T. [Auteur]
Deresmes, D. [Auteur]
Nys, J.P. [Auteur]
Stievenard, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Ebert, P. [Auteur]
Titre de la manifestation scientifique :
Journées Thématiques du GdR Nanofils Semiconducteurs - Dopage des nanofils semiconducteurs
Ville :
Rouen
Pays :
France
Date de début de la manifestation scientifique :
2010
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Source :