[Invited] On-wafer S-parameters and noise ...

Type de document :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Titre :
[Invited] On-wafer S-parameters and noise measurements from D to J-band
Auteur(s) :
Waldhoff, N. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la manifestation scientifique :
European Microwave Week, EuMIC/EuMC, Workshop W10 - From de-embedding to waveform engineering
Ville :
Manchester
Pays :
Royaume-Uni
Date de début de la manifestation scientifique :
2011
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL