Titre :

Characterization by laser-ultrasonics of thin film/substrate structure : application to the detection of microcracks

Auteur(s) :

Fourez, Sabrina [Auteur]
Jenot, Frederic [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Ouaftouch, Mohammadi [Auteur]
Duquennoy, Marc [Auteur]
Ourak, Mohamed [Auteur]

Éditeur(s) ou directeur(s) scientifique(s) :

Société Française d'Acoustique

Titre de la manifestation scientifique :

Acoustics 2012

Ville :

Nantes

Pays :

France

Date de début de la manifestation scientifique :

2012-04-23

Titre de l’ouvrage :

Acoustics 2012 Nantes

Date de publication :

2012-04-23

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

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