MmW lab in-situ to extract noise parameters ...

Document type :
Communication dans un congrès avec actes
DOI :
10.1109/RFIC.2009.5135566
Title :
MmW lab in-situ to extract noise parameters of 65nm CMOS aiming 70-90 GHz applications
Author(s) :
Tagro, Y. [Auteur]
Gloria, D. [Auteur]
Boret, S. [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Conference title :
IEEE Radio Frequency Integrated Circuits Symposium, RFIC 2009
City :
Boston, MA
Country :
Etats-Unis d'Amérique
Start date of the conference :
2009
Book title :
Proceedings of 2009 IEEE Radio Frequency Integrated Circuits Symposium, RFIC 2009
Publication date :
2009
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL