Title :

SiGe HBT noise parameters extraction using in-situ silicon integrated tuner in mmW range 60-110 GHz

Author(s) :

Tagro, Y. [Auteur]
Gloria, D. [Auteur]
Boret, S. [Auteur]
lepilliet, sl [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Conference title :

IEEE Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting, BCTM 2009

City :

Capri

Country :

Italie

Start date of the conference :

2009

Book title :

Proceedings of the 2009 IEEE Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting, BCTM 2009

Publication date :

2009

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL