Influence of inelastic processes on fast-atom-surface diffraction

Document type :

Article dans une revue scientifique

DOI :

Title :

Author(s) :

Aigner, F. [Auteur]
Simonovic, N. [Auteur]
Solleder, B. [Auteur]
Wirtz, L. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Burgdorfer, J. [Auteur]

Journal title :

Journal of Physics: Conference Series

Pages :

012014-1-8

Publisher :

IOP Science

Publication date :

2008

ISSN :

1742-6596

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

Source :

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