Residual stress relaxation in GaN/sapphire ...
Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...)
Permalink :
Title :
Residual stress relaxation in GaN/sapphire circular pillars measured by Raman scattering spectroscopy
Author(s) :
Margueron, S.H. [Auteur]
Bourson, P. [Auteur]
Gautier, S. [Auteur]
Soltani, A. [Auteur]
Troadec, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
De Jaeger, J.C. [Auteur]
Sirenko, A.A. [Auteur]
Ougazzaden, A. [Auteur]
Bourson, P. [Auteur]
Gautier, S. [Auteur]
Soltani, A. [Auteur]
Troadec, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
De Jaeger, J.C. [Auteur]
Sirenko, A.A. [Auteur]
Ougazzaden, A. [Auteur]
Publisher :
Elsevier
Publication date :
2008
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Source :
Submission date :
2021-07-27T15:27:27Z