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Characterization by laser-ultrasonics of ...
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Type de document :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Characterization by laser-ultrasonics of thin film/substrate structure : application to the detection of microcracks
Auteur(s) :
Fourez, Sabrina [Auteur]
Jenot, Frédéric [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Ouaftouh, Mohammadi [Auteur]
Duquennoy, Marc [Auteur] refId
Ourak, Mohamed [Auteur] refId
Titre de la manifestation scientifique :
6th International Symposium on Signal, Image, Video and Communications, ISIVC 2012
Ville :
Valenciennes
Pays :
France
Date de début de la manifestation scientifique :
2012
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Collections :
  • Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520
Source :
Harvested from HAL
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