Large signal microwave performances of ...

Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
DOI :
10.1049/el.2012.3443
Titre :
Large signal microwave performances of high-k metal gate 28 nm CMOS technology
Auteur(s) :
Ouhachi, R. [Auteur]
Pottrain, A. [Auteur]
Ducatteau, D. [Auteur]
Okada, Etienne [Auteur]
Gloria, D. [Auteur]
Gaquiere, Christophe [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la revue :
Electronics Letters
Pagination :
1627-1629
Éditeur :
IET
Date de publication :
2012
ISSN :
0013-5194
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL