Titre :

Evidence of surface charge effects in T-branch nanojunctions using microsecond-pulse testing

Auteur(s) :

Iniguez-De-La-Torre, I. [Auteur]
Mateos, J. [Auteur]
Roelens, Yannick [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Gardes, C. [Auteur]
Bollaert, Sylvain [Auteur]
Gonzalez, T. [Auteur]

Titre de la revue :

Nanotechnology

Pagination :

445203-1-5

Éditeur :

Institute of Physics

Date de publication :

2011

ISSN :

0957-4484

Langue :

Anglais

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL