Investigation of the role of H-related ...
Document type :
Communication dans un congrès avec actes: Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...)
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Title :
Investigation of the role of H-related defects in Al2O3 blocking layer on charge-trap memory retention by atomistic simulations and device physical modelling
Author(s) :
Molas, G. [Auteur]
Masoero, L. [Auteur]
Blaise, P. [Auteur]
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information [CEA-LETI]
Padovani, A. [Auteur]
P. Colonna, J. [Auteur]
Vianello, E. [Auteur]
Bocquet, Marc [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Nowak, Emmanuel [Auteur]
Bertin Technologies [Bertin Technologies]
Gasulla, M. [Auteur]
Cueto, O. [Auteur]
Grampeix, H. [Auteur]
Martin, F. [Auteur]
Kies, R. [Auteur]
Brianceau, P. [Auteur]
Gély, M. [Auteur]
M. Papon, A. [Auteur]
Lafond, D. [Auteur]
P. Barnes, J. [Auteur]
Licitra, C. [Auteur]
Ghibaudo, G. [Auteur]
Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation [IMEP-LAHC]
Larcher, L. [Auteur]
Deleonibus, S. [Auteur]
De Salvo, B. [Auteur]
Masoero, L. [Auteur]
Blaise, P. [Auteur]
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information [CEA-LETI]
Padovani, A. [Auteur]
P. Colonna, J. [Auteur]
Vianello, E. [Auteur]
Bocquet, Marc [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Nowak, Emmanuel [Auteur]
Bertin Technologies [Bertin Technologies]
Gasulla, M. [Auteur]
Cueto, O. [Auteur]
Grampeix, H. [Auteur]
Martin, F. [Auteur]
Kies, R. [Auteur]
Brianceau, P. [Auteur]
Gély, M. [Auteur]
M. Papon, A. [Auteur]
Lafond, D. [Auteur]
P. Barnes, J. [Auteur]
Licitra, C. [Auteur]
Ghibaudo, G. [Auteur]
Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation [IMEP-LAHC]
Larcher, L. [Auteur]
Deleonibus, S. [Auteur]
De Salvo, B. [Auteur]
Conference title :
IEEE IEDM 2010,
City :
San Francisco, CA
Country :
Espagne
Start date of the conference :
2010
Book title :
IEEE IEDM 2010,
Publication date :
2010
HAL domain(s) :
Physique [physics]/Matière Condensée [cond-mat]/Autre [cond-mat.other]
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
Source :
Submission date :
2021-07-27T16:54:06Z