Dielectric properties at microwaves ...
Document type :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Title :
Dielectric properties at microwaves frequencies of (Ni, Ti, La, Mg)-doped Ba0.3Sr0.7TiO3 thin films deposited on high-resistivity silicon substrates
Author(s) :
Ponchel, Freddy [Auteur]
Remiens, Denis [Auteur]
Midy, J. [Auteur]
Legier, Jean-François [Auteur]
Soyer, Caroline [Auteur]
Lasri, Tuami [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Guegan, G. [Auteur]

Remiens, Denis [Auteur]

Midy, J. [Auteur]
Legier, Jean-François [Auteur]
Soyer, Caroline [Auteur]

Lasri, Tuami [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Guegan, G. [Auteur]
Journal title :
Journal of the American Ceramic Society
Pages :
1661-1663
Publisher :
Wiley
Publication date :
2011
ISSN :
0002-7820
Language :
Anglais
Popular science :
Non
Source :
Files
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