Title :

Study of nano-domains by piezoresponse force microscopy of relaxor PMN-PT thin films : influence of the annealing temperature, film thickness and composition

Author(s) :

Detalle, M. [Auteur]
Liang, R. [Auteur]
Soyer, Caroline [Auteur]
Remiens, Denis [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Dong, X. [Auteur]

Conference title :

European Materials Research Society Spring Meeting, E-MRS Spring 2009, Symposium H : Synthesis, Processing and Characterization of Nanoscale Multi Functional Oxide Films II

City :

Strasbourg

Country :

France

Start date of the conference :

2009

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL