Caractérisation électrique de défauts ponctuels atomiques uniques dans un semi-conducteur

Document type :

Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes

Title :

Author(s) :

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Conference title :

Journées Nanomicrotechnologies

City :

Paris

Country :

France

Start date of the conference :

2009

Language :

Français

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

Source :

Caractérisation électrique de défauts ... BibTeX CSV Excel RIS