Caractérisation de défauts atomiques uniques ...

Type de document :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...)
URL permanente :
http://hdl.handle.net/20.500.12210/49145
Titre :
Caractérisation de défauts atomiques uniques dans un semiconducteur
Auteur(s) :
Grandidier, B. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la manifestation scientifique :
Journées Nanomicrotechnologies : Surfaces et nanostructures - Analyses, mesures et modélisations
Ville :
Paris
Pays :
France
Date de début de la manifestation scientifique :
2009
Langue :
Français
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL
Date de dépôt :
2021-07-27T17:22:50Z