Title :

Complete optical characterization of multilayered InxGa1-xN/GaN structures grown by MOCVD on sapphire substrates

Author(s) :

Gokarna, A. [Auteur]
Stolz, A. [Auteur]
Dogheche, El Hadj [Auteur]
Decoster, Didier [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Teng, J. [Auteur]
Liu, W. [Auteur]
Chua, S.J. [Auteur]
Dumont, E. [Auteur]

Conference title :

5th International Conference for Materials Advanced Technologies, ICMAT 2009, Symposium O: Compound Semiconductor Photonics: Materials, Devices and Integration

City :

_

Country :

France

Start date of the conference :

2009

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL