Titre :

Complete optical characterization of multilayered InxGa1-xN/GaN structures grown by MOCVD on sapphire substrates

Auteur(s) :

Gokarna, A. [Auteur]
Stolz, A. [Auteur]
Dogheche, El Hadj [Auteur]
Decoster, Didier [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Teng, J. [Auteur]
Liu, W. [Auteur]
Chua, S.J. [Auteur]
Dumont, E. [Auteur]

Titre de la manifestation scientifique :

5th International Conference for Materials Advanced Technologies, ICMAT 2009, Symposium O: Compound Semiconductor Photonics: Materials, Devices and Integration

Ville :

_

Pays :

France

Date de début de la manifestation scientifique :

2009

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

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