Caractérisation optique et modélisation ...
Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...)
Permalink :
Title :
Caractérisation optique et modélisation de la réfraction négative dans les cristaux photoniques
Author(s) :
Hofman, M. [Auteur]
Lalouat, L. [Auteur]
Cluzel, B. [Auteur]
Fabre, Nelly [Auteur]
Melique, X. [Auteur]
Lippens, D. [Auteur]
De Fornel, F. [Auteur]
Vanbesien, O. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lalouat, L. [Auteur]
Cluzel, B. [Auteur]
Fabre, Nelly [Auteur]
Melique, X. [Auteur]
Lippens, D. [Auteur]
De Fornel, F. [Auteur]
Vanbesien, O. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Conference title :
28èmes Journées Nationales d'Optique Guidée, OPTIQUE Lille 2009
City :
Villeneuve d'Ascq
Country :
France
Start date of the conference :
2009
Language :
Français
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Source :
Submission date :
2021-07-27T17:28:54Z