Titre :

Amorphous silicon regrowth mechanisms, orientation effects and defects generation : insight from molecular dynamics simulation

Auteur(s) :

Krzeminski, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lampin, E. [Auteur]

Titre de la manifestation scientifique :

European Materials Research Society Spring Meeting, E-MRS Spring 2010, Symposium I : Advanced silicon materials research for electronic and photovoltaic applications II

Ville :

Strasbourg

Pays :

France

Date de début de la manifestation scientifique :

2010

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL