Noise characterization of mmW Si devices ...
Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Title :
Noise characterization of mmW Si devices using classical and in-situ experimental set up
Author(s) :
Waldhoff, N. [Auteur]
Tagro, Y. [Auteur]
Poulain, L. [Auteur]
Gloria, D. [Auteur]
Danneville, François [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Tagro, Y. [Auteur]
Poulain, L. [Auteur]
Gloria, D. [Auteur]
Danneville, François [Auteur]

Dambrine, Gilles [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Conference title :
European Microwave Week Workshops and Short Courses, Silicon Characterization from MHz to THz
City :
Paris
Country :
France
Start date of the conference :
2010
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Source :