Title :

Nanoscale study by piezoresponse force microscopy of relaxor 0.7Pb(Mg1/3Nb2/3)O3-0.3PbTiO3 and 0.9Pb(Mg1/3Nb2/3)O3-0.1PbTiO3 thin films grown on platinum and LaNiO3 electrodes

Author(s) :

Detalle, M. [Auteur]
Ferri, Anthony [Auteur]
da Costa, A. [Auteur]
Desfeux, Rachel [Auteur]
Soyer, Caroline [Auteur]
Remiens, Denis [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Journal title :

Thin Solid Films

Pages :

4670-4674

Publisher :

Elsevier

Publication date :

2010

ISSN :

0040-6090

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

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