Nanoscale study by piezoresponse force ...
Document type :
Article dans une revue scientifique
Title :
Nanoscale study by piezoresponse force microscopy of relaxor 0.7Pb(Mg1/3Nb2/3)O3-0.3PbTiO3 and 0.9Pb(Mg1/3Nb2/3)O3-0.1PbTiO3 thin films grown on platinum and LaNiO3 electrodes
Author(s) :
Detalle, M. [Auteur]
Ferri, Anthony [Auteur]
da Costa, A. [Auteur]
Desfeux, Rachel [Auteur]
Soyer, Caroline [Auteur]
Remiens, Denis [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Ferri, Anthony [Auteur]
da Costa, A. [Auteur]
Desfeux, Rachel [Auteur]
Soyer, Caroline [Auteur]
Remiens, Denis [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Journal title :
Thin Solid Films
Pages :
4670-4674
Publisher :
Elsevier
Publication date :
2010
ISSN :
0040-6090
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Source :
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