Confined VLS growth and structural ...

Document type :
Article dans une revue scientifique
DOI :
10.1016/j.mee.2009.11.053
Title :
Confined VLS growth and structural characterization of silicon nanoribbons
Author(s) :
Lecestre, Aurélie [Auteur]
Dubois, Emmanuel [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Villaret, A. [Auteur]
Skotnicki, T. [Auteur]
Coronel, P. [Auteur]
Patriarche, G. [Auteur]
Maurice, C. [Auteur]
Journal title :
MICROELECTRONIC ENGINEERING
Pages :
1522-1526
Publisher :
Elsevier
Publication date :
2010
ISSN :
0167-9317
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL
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